1. Defect-Oriented Testing For Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
المؤلف: / by Manoj Sachdev, Jose Pineda de Gyvez
المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (أردبیل)
موضوع: CMOS VLSI Circuits
رده :
TK7874
.
D47S2
2010
2. Integrated circuit defect-sensitivity
المؤلف: / by Jose Pineda de Gyvez
المکتبة: مكتبات الكلية التقنية بجامعة طهران (طهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Design and construction - Data processing,Integrated circuits - Very large scale integration - Defects - Mathematical models,Computer-aided design
رده :
TK
7874
.
P53
1993
3. Integrated circuit manufacturability: the art of process and design integration
المؤلف: edited by Jose Pineda de Gyvez, Dhiraj Pradhan
المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Design and construction - Data processing ، Integrated circuits,Design and construction - Data processing ، Metal oxide semiconductors, Complimemtary,، Computer-aided design,Testing ، Integrated circuits
رده :
TK
7874
.
I4713
1999
4. Integrated circuit manufacturability: the art of process and design integration
المؤلف: edited by Jose Pineda de Gyvez, Dhiraj Pradhan
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه صنعتي خواجه نصير الدين طوسى (طهران)
موضوع: ، Integrated circuits- Design and construction- Data processing,، Metal oxide semiconductors, Complimentary- Design and construction- Data processing,، Computer-aided design,، Integrated circuits- Testing
رده :
TK
7874
.
I4713
